產品中心
Product Center
熱門搜索：
美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺式納米壓痕儀
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯用系統
納米團簇束流沉積系統
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Lumina光學表面缺陷分析儀
Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
納米壓印膠
Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術的優點是它是直接測量，與材料特性無關。可調節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力，可對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的任何變化。
更新時間：2024-06-17
產品型號：D-300 D500
瀏覽量：4366
當前位置：
